SIG SWE OA 面试复盘｜限时 Coding 里，图搜索和性能优化如何守住后两题

SIG 的 SWE OA 一上来就要把输入、约束和复杂度说清楚。前半段优先把可读代码写稳，后半段再看图搜索和状态压缩；不要把时间花在漂亮封装上，先保住可提交的主路径。

第一题：多约束盘面恢复

题目描述

给定一个 n × n 的盘面，部分格子已填值。每次可以在空格写入一个值，但同一行、同一列和指定分区都不能重复。要求返回一组完整盘面；若无解则返回空结果。输入规模足以让逐格暴力枚举超时。

解题思路

先为每一行、列和分区维护 bitmask。递归时不要固定从左到右选格，而是选候选值最少的空格；每次落子只改三份 mask，回溯时原样撤销。候选集合由 fullMask & ~(rowMask | colMask | boxMask) 得到，遍历最低位即可。这样的写法把约束检查压到 O(1)，也方便在现场解释剪枝为什么有效。类似的限时算法沟通，关键在于把状态和撤销动作讲完整。 SIG 候选人的技术轮复盘 里也提到，后续会继续追问优化依据。

第二题：行情依赖图的增量刷新

题目描述

系统接收一组行情节点及依赖边。某个底层节点发生更新后，需要找出全部受影响节点，并按依赖顺序重新计算。图中允许多个上游汇入同一节点，重复计算会直接拖慢整批刷新。

解题思路

建图时同时维护正向邻接表和入度。先从变更节点做 BFS 标记受影响集合，再只在这部分子图上执行 Kahn 拓扑排序。节点入队前要确认受影响上游都已完成，避免父节点尚未更新就使用旧值。若出现剩余入度不为零的节点，直接返回环路错误，不要悄悄给出部分结果。 复杂度 ：标记与排序合计 O(V + E)，只扫描受影响子图。

做题过程

前二十分钟先完成第一题的状态结构和两个样例；接着给第二题补一组菱形依赖和一组环路输入。提交前重点检查空输入、孤立节点、重复边和无解盘面。SIG 的候选反馈里能看到 OA 后还会延伸到编码与设计讨论， 这份软件工程师流程记录 适合用来安排下一阶段的复习。

备考建议

练习时把 bitmask 回溯写成可撤销的三行更新，不要依赖全量复制数组。 图题先说清楚“受影响范围”和“执行顺序”是两件事，再落到 BFS 与拓扑排序。 代码写完留五分钟手推一遍：同一节点被多条边命中时，是否仍只重算一次。

FAQ

SIG OA 要先刷哪类题？

先练约束搜索、图遍历和复杂度优化。题目进入后半段时，清晰地解释剪枝和数据结构取舍比堆砌模板更有用。

写完代码后还需要准备什么？

把每个状态变量的含义、边界输入和复杂度准备成一段能直接口述的话。技术轮会顺着这几处继续追问。

参考来源

SIG Software Engineer Interview Guide SIG SWE intern interview experience SIG Software Engineer interview questions

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